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LBTA款涂層測(cè)厚儀

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LBTA款涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

LBTA款涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍

0-1250mm

測(cè)量精度

±3%H±1.5ｕm

顯示精度

0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm

zui小基體

10X10mm

zui小曲率

凸：5mm   凹：25mm

zui薄基體

0.5mm

環(huán)境溫度

0℃~40℃相對(duì)濕度：不過85%

電源

 DC9VX1

 

圖片展示

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍

0-1250mm

測(cè)量精度

±3%H±1.5ｕm

顯示精度

0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm

zui小基體

10X10mm

zui小曲率

凸：5mm   凹：25mm

zui薄基體

0.5mm

環(huán)境溫度

0℃~40℃相對(duì)濕度：不過85%

電源

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